GreenYMS

GreenYMS(Yield Management System)는 제조 현장에서 발생하는 모든 데이터를 활용하여 불량 원인을 정형, 비정형 분석을 통해 '혐의 설비, 공정' 을 파악할 수 있는 기능을 제공합니다.


제품 개요


Trend Data Analysis
 - Analysis Based On Operation
 - Analysis Based On Equipment
 - Analysis Based On Statistical
 - Analysis Based On Grade

Defect Analysis
 - Defect Map Analysis( By Defect Point)
 - Map Image Gallery
 - Defect Code/Count
 - Defect Trend Summary


High-Level Analysis
 - Significant Analysis
 - One-way ANOVA, Two-way ANOVA
 - Correlation Analysis
 - Regression Analysis

Powerful Chart
 - Multi trend Chart
 - Special Chart
 - 3D Chart


특징



핵심 기술 요소

Low Cost Based Excellent Analytic 플랫폼
Spring 기반 위에 다수의 영역에 오픈 소스를 선택적으로 활용
Workflow : 엔지니어의 직관적/경험적 분석 모형을 Graphic 기반으로 작성

IAE (Integrated Analysis Environment)

분석 프레임워크 및 기본 모듈이 플러그인 형태로 제공
Powerful Chart : 상용 Control에서 지원하는 거의 모든 Chart 및 Special Chart
통계 분석 엔진 'R' 과의 Integration 을 통해 'R' 에서 제공하는 다양한 통계 분석 기법 사용
고객사 환경에 최적화될 수 있도록 Customization이 가능

IT Technology

Java platform (J2SE / J2EE)
POJO (Plain Old Java Object)
Middleware (TIBCO RVD, RMI, JMS)
JDBC / OR-Mapping

주요 기능


· 장비, 공정, 특정 조건을 기준으로 각각의 Data를 조회하여 다양한 형태의 Chart를 이용하여 추이 (Trend)를 분석

· 동일한 Data를 다양한 Chart를 통하여 시각적으로 의미 있도록 표현

· 다양한 조건으로 Defect Map을 표현

· 2개 이상의 Glass 정보를 표현 (Overlap 기능)

· 사용자 편의 기능

· Defect 이미지에 대한 상세 정보 표현

· 제품별, Lot 별 통계 데이터 제공

· 고급 통계 기능 (상관분석, 회귀분석, 분산분석 등)을 제공하여 Data 유의성 검증

· 불량 원인 추적

효과

Decrease

· 반도체 및 디스플레이 제조 환경에서 발생하는 데이터를 분석하여,

   - Lead/Tact time 절감

   - 설비의 Downtime 감소

   - 제품 불량률 감소

를 통해 비용을 절감하여 효과적인 제품 생산을 도모할 수 있습니다.

Business


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     · : R&D팀_분석솔루션 그룹

     · : hjkim@aim.co.kr (김효준 사원) | eklee88@aim.co.kr (이은경 사원)